可靠性试验是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。

可靠性试验方法：

     1.定时截尾试验：指事先规定一个试验时间，当试验达到所规定的时间就停止。样本中出现故障的样品数是随机的，事先无法知道。

     2.序贯试验：又称序贯分析，对现有样本一个接着一个或一对接着一对地展开试验，循序而连贯地进行，直至出现规定的结果便适可而止结束试验。 其特点是这种试验既可避免盲目加大试验样本数而造成浪费，又不致于因试验样本个数太少而得不到结论-节约样本（比一般试验方法节约样本30~50%）。常用的序贯试验法有对分法、0.618法、分数法、抛物线法、爬山法和分批试验法等。

     3.可靠性增长试验：通过对产品施加真实的或模拟的综合环境应力，暴露产品的潜在缺陷并采取纠正措施，使产品的可靠性达到预定要求的一种试验，它是一个有计划的试验-分析-改进（TAAF）的过程。 值得注意的是可靠性增长活动不是针对设计低劣的产品的，而是针对经过认真设计仍然由于某些技术原因达不到要求的产品。 切记：可靠性增长的核心是消除影响设计缺陷。但是，把可靠性水平寄托在增长活动上的态度是错误的。

     4. 高加速寿命试验：简称HALT试验，是由美国所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的定性试验方法，利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足。 HALT试验箱可提供-100℃～＋200℃的温度区间，温变速率可达到70℃～100℃/min。同时，提供六轴向随机振动（振动强度0～75Grms，频率范围1Hz～1MHz。），在低频范围内传递较高的振动能量，激发大型产品潜在的缺陷。 HALT优势：快速检测缺陷，消除故障机会；评估失效率和MTBF，验证标准。

     中冷低温研发的HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果(如迁移，腐蚀，绝缘劣化，材料老化等)，大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，作为标准高温高湿测试的快速有效替代方案。